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CSK-IA試塊結構、主要尺寸及主要用途

2021-08-10 18:11:07 admin 413

CSK-IA試塊是我國承壓設備無損檢測標準JB/T 4730—2005中規定的標準試塊,是在IIW試塊基礎上改進后得到的,其結構及主要尺寸如圖4—30所示。CSK-IA試塊有三點改進:

圖片關鍵詞

1)將直孔φ50 mm改進φ50 mm、φ44 mm、φ40 mm 臺階孔,以便于測定橫波斜探頭的分辨力。

2)將R100改為R100、R50階梯圓弧,以便于調整橫波掃描速度和檢測范圍。

3)將試塊上標定的折射角改為K值(K=tanβs),從而可直接測出橫波斜探頭的K值。CSK-IA試塊的其他功能同IIW試塊,材質一般同被檢工件。

(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA標準試塊CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA試塊是JB/T4730—2005標準中規定采用的焊縫超聲波檢測用的橫孔標準試塊。CSK-IA結

構如圖4—31所示;CSK一IIA結構如圖4—32所示;CSK一ⅣA結構如圖4—33所示。

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我國的CSK系列標準試塊比較特殊,要求試塊材質與工件相同或相近。CSK- IA,CSK一IA, CSK-ⅣA試塊主要用于測定橫波距離一波幅曲線、斜探頭的K值和調整橫波掃描速度和靈敏度等。其中 CSK-IA和CSK-A適用于壁厚范圍為8~120 mm 的焊縫,CSK-ⅣA系列試塊用于壁厚范圍120~400 mm的焊縫。


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